Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
NORMA vydaná dňa 1.12.2016
Označenie normy: UNE-EN 60749-44:2016
Dátum vydania normy: 1.12.2016
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE