Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2017.)
NORMA vydaná dňa 10.10.2024
Označenie normy: UNE-EN 60749-43:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.10.2024
Počet strán: 46
Približná hmotnosť: 138 g (0.30 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE