UNE-EN 60749-4:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

NORMA vydaná dňa 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (50.00 EUR)

Anglicky -

Tlačené (55.00 EUR)

Španielsky -

Elektronické PDF (50.00 EUR)

Španielsky -

Tlačené (55.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-4:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE