Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
NORMA vydaná dňa 1.9.2008
Označenie normy: UNE-EN 60749-38:2008
Dátum vydania normy: 1.9.2008
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE