UNE-EN 60749-37:2008

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)

NORMA vydaná dňa 17.11.2025

Anglicky -
Elektronické PDF (65.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (72.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-37:2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 17.11.2025
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE