UNE-EN 60749-3:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORMA vydaná dňa 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (31.40 EUR)

Anglicky -

Tlačené (34.50 EUR)

Španielsky -

Elektronické PDF (31.40 EUR)

Španielsky -

Tlačené (34.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-3:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE