UNE-EN 60749-29:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test

NORMA vydaná dňa 9.7.2004

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-29:2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 9.7.2004
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE