Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
NORMA vydaná dňa 6.4.2025
Označenie normy: UNE-EN 60749-28:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.4.2025
Počet strán: 52
Približná hmotnosť: 156 g (0.34 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE