Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
NORMA vydaná dňa 1.1.2013
Označenie normy: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Poznámka: Zmena
Dátum vydania normy: 1.1.2013
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE