Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2006
Označenie normy: UNE-EN 60749-27:2006
Dátum vydania normy: 1.11.2006
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE