
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
NORMA vydaná dňa 6.10.2023
Označenie normy: UNE-EN 60749-20:2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.10.2023
Počet strán: 31
Približná hmotnosť: 93 g (0.21 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE