
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
NORMA vydaná dňa 11.6.2004
Označenie normy: UNE-EN 60749-20:2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 11.6.2004
Počet strán: 57
Približná hmotnosť: 171 g (0.38 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE