UNE-EN 60749-2:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.

NORMA vydaná dňa 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (40.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (44.20 EUR)

Španielsky -

Elektronické PDF (40.20 EUR)

Španielsky -

Tlačené (44.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-2:2003
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE