UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength

NORMA vydaná dňa 19.1.2011

Anglicky -
Elektronické PDF (31.40 EUR)

Anglicky -

Tlačené (34.50 EUR)

Španielsky -

Elektronické PDF (31.40 EUR)

Španielsky -

Tlačené (34.50 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Note: Zmena
Publication date standards: 19.1.2011
The number of pages: 12
Approximate weight : 36 g (0.08 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategória: Technické normy UNE