UNE-EN 60749-19:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength

NORMA vydaná dňa 21.11.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (35.30 EUR)

Anglicky -

Tlačené (38.80 EUR)

Španielsky -

Elektronické PDF (35.30 EUR)

Španielsky -

Tlačené (38.80 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-19:2003
Publication date standards: 21.11.2003
The number of pages: 18
Approximate weight : 54 g (0.12 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategória: Technické normy UNE