
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
NORMA vydaná dňa 21.11.2003
Označenie normy: UNE-EN 60749-18:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 21.11.2003
Počet strán: 34
Približná hmotnosť: 102 g (0.22 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE