
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
NORMA vydaná dňa 21.11.2003
Označenie normy: UNE-EN 60749-17:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 21.11.2003
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE