Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
NORMA vydaná dňa 1.1.2016
Označenie normy: UNE-EN 15991:2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.2016
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE