STN EN 62373 (358794)

Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).

NORMA vydaná dňa 1.5.2007

Informácie o norme:

Označenie normy: STN EN 62373
Rozlišovací znak: 358794
Katalógové číslo: 103447
Dátum vydania normy: 1.5.2007
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Slovenská technická norma
Kategória: Technické normy STN