SAE J1752/2

Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz

NORMA vydaná dňa 1.1.2003

Informácie o norme:

Označenie normy: SAE J1752/2
Poznámka: Neaktuálna
Dátum vydania normy: 1.1.2003
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy SAE