Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022)
NORMA vydaná dňa 1.6.2022
Designation standards: ÖNORM EN ISO 9220
Publication date standards: 1.6.2022
The number of pages: 19
Approximate weight : 57 g (0.13 lbs)
Country: Austrian technische Norm
Kategória: Technické normy ÖNORM
Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer und anderer anorganischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Das Verfahren ist für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern anwendbar, allerdings ist es für solch dicke Schichten üblicherweise praktischer, ein Lichtmikroskop (siehe ISO 1463) zu verwenden. Die untere Dickengrenze hängt von der erreichten Messunsicherheit ab.