Metallische und andere anorganische Schichten - Messung von Schichtdicken - Fizeau-Vielstrahl-Interferenz-Verfahren (ISO 3868:1976)
NORMA vydaná dňa 1.2.1995
Označenie normy: ÖNORM EN ISO 3868
Dátum vydania normy: 1.2.1995
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Schichtdicke von dünnen, stark reflektierenden Überzügen (bis 2 p) durch Anwendung des Vielstrahl- Interferenz-Verfahrens nach Fizeau fest. Das beschriebene Verfahren kann nicht auf Überzügen aus Glasemai 1 angewendet werden.