Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO 18452:2005)
NORMA vydaná dňa 1.11.2016
Označenie normy: ÖNORM EN ISO 18452
Dátum vydania normy: 1.11.2016
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet.