
Zerstörungsfreie Prüfung - Industrielle Computer-Radiographie mit Phosphor-Speicherfolien - Teil 2: Grundlagen für die Prüfung von metallischen Werkstoffen mit Röntgen- und Gammastrahlen
NORMA vydaná dňa 1.12.2005
Označenie normy: ÖNORM EN 14784-2
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2005
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM