Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren (( IEC 63185:2025) EN IEC 63185:2025) (deutsche Fassung)
NORMA vydaná dňa 1.9.2026
Označenie normy: ÖVE EN IEC 63185
Dátum vydania normy: 1.9.2026
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM
Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die breitbandige Vermessung dielektrischer Substrate mit Hilfe eines einzigen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen und Randfeldern auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse (en: mode-matching analysis) akkurat berücksichtigt wird.