
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren ((IEC 62276:2025) EN IEC 62276:2025) (deutsche Fassung)
NORMA vydaná dňa 1.8.2026
Designation standards: ÖVE EN IEC 62276
Publication date standards: 1.8.2026
The number of pages: 46
Approximate weight : 138 g (0.30 lbs)
Country: Austrian technische Norm
Kategória: Technické normy ÖNORM
Diese Dokument gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat(LN)-, Lithiumtantalat(LT)-, Lithiumtetraborat(LBO)-Kristallen und Lanthanum-Gallium-Silikat (LGS), die für die Verwendung als Substrate bei der Herstellung von Oberflächenwellen-(OFW-)Filtern und Resonatoren vorgesehen sind.