Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
NORMA vydaná dňa 15.7.2003
Označenie normy: ISO 6342:2003-ed.2.0
Dátum vydania normy: 15.7.2003
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.