NORMSERVIS s.r.o.

ISO 17560:2014-ed.2.0

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon

NORMA vydaná dňa 10.9.2014

Anglicky -
Elektronické PDF (85.80 EUR)
Anglicky -
Tlačené (85.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ISO 17560:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 10.9.2014
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO