ISO 17470:2014-ed.2.0

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

NORMA vydaná dňa 6.1.2014

Anglicky -
Elektronické PDF (87.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (87.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ISO 17470:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 6.1.2014
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO