NORMSERVIS s.r.o.

ISO 17297:2025

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary

NORMA vydaná dňa 26.5.2025

Anglicky -
Elektronické PDF (131.20 EUR)
Anglicky -
Tlačené (131.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ISO 17297:2025
Dátum vydania normy: 26.5.2025
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO

Anotácia textu normy ISO 17297:2025 :

Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).