ISO 17109:2022-ed.2.0

Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films

NORMA vydaná dňa 1.3.2022

Anglicky -
Elektronické PDF (177.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (177.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ISO 17109:2022-ed.2.0
Dátum vydania normy: 1.3.2022
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO