ISO 14701:2018-ed.2.0

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness

NORMA vydaná dňa 31.10.2018

Anglicky -
Elektronické PDF (126.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ISO 14701:2018-ed.2.0
Dátum vydania normy: 31.10.2018
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO