American National Standard for Evaluating the Image Quality of X-ray Computed Tomography (CT)Security-Screening Systems
NORMA vydaná dňa 23.5.2011
Označenie normy: IEEE N42.45-2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 23.5.2011
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE