IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1
NORMA vydaná dňa 12.12.2018
Označenie normy: IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 12.12.2018
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE