IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
NORMA vydaná dňa 31.8.2010
Označenie normy: IEEE C62.35-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.8.2010
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE