NORMSERVIS s.r.o.

IEEE 300-1988

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

NORMA vydaná dňa 29.12.1988

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie (160.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEEE 300-1988
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.12.1988
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE