IEEE 300-1969

USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

NORMA vydaná dňa 30.11.1968

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie (48.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEEE 300-1969
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.11.1968
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE