IEEE 256-1963

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

NORMA vydaná dňa 20.12.1963

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie (47.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEEE 256-1963
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 20.12.1963
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE