IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
NORMA vydaná dňa 5.12.2008
Označenie normy: IEEE 1620-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 5.12.2008
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE