
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
NORMA vydaná dňa 1.8.2013
Označenie normy: IEEE 1505.1-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.2013
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE