
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
NORMA vydaná dňa 10.2.2010
Označenie normy: IEEE 1149.7-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.2.2010
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE