IEC 62899-503-1-ed.1.0

Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

NORMA vydaná dňa 27.5.2020

Anglicky -
Elektronické PDF (101.90 EUR)

Anglicky -

Tlačené (101.90 EUR)

Anglicky -

CD-ROM (103.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 62899-503-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 27.5.2020
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 62899-503-1-ed.1.0 :

IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).