IEC 62374-ed.1.0

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORMA vydaná dňa 29.3.2007

Anglicky a francúzsky -
Elektronické PDF (200.30 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (200.30 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (201.90 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: IEC 62374-ed.1.0
Publication date standards: 29.3.2007
The number of pages: 43
Approximate weight : 129 g (0.28 lbs)
Country: International technical standard
Kategória: Technické normy IEC

Annotation of standard text IEC 62374-ed.1.0 :

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure Cette norme decrit une methode d essai de la rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille des dispositifs a semiconducteurs et une methode d estimation de la duree de vie de produit en presence d unedefaillance de type TDDB.