NORMSERVIS s.r.o.

IEC 62374-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

NORMA vydaná dňa 29.9.2010

Anglicky a francúzsky -
Elektronické PDF (102.70 EUR)
Anglicky a francúzsky -
Tlačené (102.70 EUR)
Anglicky a francúzsky -
CD-ROM (104.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 62374-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 29.9.2010
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 62374-1-ed.1.0 :

IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices. La CEI 62374-1:2010 decrit une methode dessai, une structure dessai et une methode destimation de la duree de vie dun essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour des couches intermetalliques appliquees dans des dispositifs a semiconducteurs.