IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

NORMA vydaná dňa 18.7.2006

Anglicky a francúzsky -
Elektronické PDF (102.70 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (102.70 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (104.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 62373-ed.1.0
Dátum vydania normy: 18.7.2006
Počet strán: 27
Približná hmotnosť: 81 g (0.18 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 62373-ed.1.0 :

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)