Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
NORMA vydaná dňa 8.3.2012
Označenie normy: IEC 62047-9-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Dátum vydania normy: 8.3.2012
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC