IEC 60759-ed.1.0

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

NORMA vydaná dňa 1.1.1983

Anglicky a francúzsky -
Elektronické PDF (382.10 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (382.10 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (383.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 60759-ed.1.0
Dátum vydania normy: 1.1.1983
Počet strán: 97
Približná hmotnosť: 322 g (0.71 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 60759-ed.1.0 :

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.