
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
NORMA vydaná dňa 12.8.2003
Označenie normy: IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Dátum vydania normy: 12.8.2003
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.