IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

NORMA vydaná dňa 28.7.2010

Španielsky -
Elektronické PDF (13.00 EUR)

Španielsky -

Tlačené (13.00 EUR)

Španielsky -

CD-ROM (14.60 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Elektronické PDF (13.00 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (13.00 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (14.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1
Poznámka: Zmena
Dátum vydania normy: 28.7.2010
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC