IEC 60749-16-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

NORMA vydaná dňa 17.1.2003

Španielsky -
Elektronické PDF (26.00 EUR)

Španielsky -

Tlačené (26.00 EUR)

Španielsky -

CD-ROM (27.70 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Elektronické PDF (26.00 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (26.00 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (27.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 60749-16-ed.1.0
Dátum vydania normy: 17.1.2003
Počet strán: 13
Približná hmotnosť: 39 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 60749-16-ed.1.0 :

Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). Definit un essai permettant de detecter la presence de particules libres a linterieur dun dispositif a cavite, comme des particules de ceramique, des elements de fil de liaison ou des boules de brasure (granules).